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      日立超高分辨率顯微鏡銀銅納米顆粒觀察實例

      [內容提要]:2011年日立推出了一款超高分辨率電子顯微鏡SU9000,它是一款冷場發射掃描電子顯微鏡,同時其也是目前世界上分辨率[tallest的掃描顯微鏡,次電子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。

       

      據悉,2011年日立推出了一款超高分辨率電子顯微鏡SU9000,它是一款冷場發射掃描電子顯微鏡,同時其也是目前世界上分辨率[tallest的掃描顯微鏡,次電子分辨率0.4nmSTEM分辨率0.34nm 

      日立SU9000電子顯微鏡相比其他顯微鏡分辨率明顯有很大優勢,這是因為此刻顯微鏡采用了全新設計的真空系統和電子光學系統作為一款冷場發射掃描電鏡甚至不需要傳統意義上的Flashing操作,可以高效的獲取樣品的超高分辨掃描電鏡照片。

      對于金屬納米顆粒來說,隨著比表面積的大小和量子尺寸效果的不同,它們會帶有不同的物理屬性。以此為研究點,金屬納米顆粒在催化劑、發光材料或納米壓印等多種領域的應用被廣泛期待。其中相對[cheapest的銀銅納米顆粒更能夠降低成本。現在,我們可以使用TEM/STEM法來觀察或控制粒徑。

      顯微鏡觀察實例

                      上圖即為銀銅納米顆粒的BFSTEM畫像和DFSTEM圖像

      BFSTEM畫像可看出顆粒大小約為10 nm,高對比度觀察下可確認顆粒的分布形式,即2個顆粒相鄰或核-殼型分布。此外,從DFSTEM畫像的Z對比度可看出銀和銅是可以分離存在的。

       

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